舉例來說，如在第二層下面存在脫粘區，諧振頻率下聲信號的頻譜將像圖10-17中虛線所示的曲線那樣發生根本變化。此時，相當于上面兩層合成爲一個單層，諧振出現在2.5MHz附近。現在的問題是如何激勵和檢測這些諸振，那些在簡單的厚度檢測中采用的以換能器通過薄液層與試件耦合的方法，通常不能滿足複雜結構檢測的需要。這裏有兩個原因：首先，它難于在檢測過程中維持穩定的耦合，而液層本身實際上使被測件增加了一個額外的層；其次，至少在商品儀器中，在激勵複合諧振所要求的放大倍數下，儀器本身經常會收到與所檢測結構無關的許多信息，這些信息可能是由儀器的電子線路內的諧振引起的，也可能是由換能器中徑向的或其他不需要的模式的激勵引起的。

好在可以用另外一種換能器以不必與被測件接觸的方法進行檢測。這裏檢查的是被測件所反射的聲波的相位，實際上是探測複數輸入阻抗的虛部。

再次參看式(10-7)，且仍用電傳輸線理論類比，就能定量地確定“反射系數”R:

式中， 爲整個疊層系統的輸入阻抗；Z₁是第一層半無限介質的聲阻抗，通常是複數。

以聲波入射到單層板爲例(設采用噴水探頭檢測時)，如圖10-18所示，可以將反射波的相位作爲層板厚度-波長比的函數並畫出曲線。可以看到，在基頻半波諧振頻率下，反射波經曆了明顯的反相。由圖10-19發現，同樣的反相現象也存在于圖10-16所示的較複雜結構的合成諧振中。因而，檢查從多層介質反射的聲波相位的確是發現任何諧振頻率的適宜方法。

近來，基于反射波相位檢測的原理，研制了一種專爲查找多層結構中脫粘區深度的裝置，如圖10-20所示。由斜波電壓發生器驅動電壓-頻率轉換器，産生線性掃頻波型，此波型隨後加到探頭組件上部的換能器(Tx)上，然後將這一掃頻頻率調至能覆蓋換能器響應頻率的範圍內。第二個換能器(Rx)接收兩個波型：一個是直接從發射換能器來的波型；另一個是通過薄的液體耦合層，從與試件接觸的聲延遲端反射過來的一部分傳輸波。實際上，包含任何脫粘信息的反射波都會對原來的掃頻波實施調制，這一調制由兩個在時間上彼此相對延遲的掃頻波線性疊加而成，在原來的波形上表現爲幅度的波動。這個波動發生在由聲延遲線的傳輸時間和掃頻速率決定的某一固定頻率處。然後，經濾波獲得這一“差動”頻率，再經放大送入鎖相回路。上述裝置的輸出爲直流電壓信號，該信號的幅值與波形和回路中振蕩器之間的相位差成正比。

在被測件中假若脫粘區恰好處于聲延遲線的下面，而掃頻範圍又包含諧振領率，反射波便會出現反相，這必然對掃描波的相位造成影響。那麽，鎖相回路的輸出電平也應隨之而發生變化。鑒于反射波相位與諧振頻率相關，因而可以同時用示波器予以監測，當然，這時示波器應顯示以頻率爲橫坐標的幅-頻特性。

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